流體控溫裝置芯片測試電路設計

　　隨著國內芯片行業的不斷發展，無錫冠亞流體控溫裝置不斷得到應用，為此，針對流體控溫裝置芯片測試的電路設計，流體控溫裝置廠家需要了解清楚，才能更好的生產銷售流體控溫裝置。

　　AM-OLED顯示驅動芯片是AM-OLED平板顯示屏的關重件，具有重要經濟價值，顯示驅動芯片內部集成了行列驅動電路、圖像SRAM、電荷泵、LDO、伽馬校正和多種輸入輸出接口。內置圖像SRAM可支持到WVGA分辨率，可顯示16.77兆色的顯示屏；片內的低功耗電源管理技術增強了手持設備的電池續航能力。該芯片具有高集成度、低成本、低功耗的特點，可運用于中小尺寸AM-OLED顯示屏模塊，包括智能手機、數碼相機等電子產品。 因此，流體控溫裝置針對AM-OLED驅動控制芯片的測試需求，并結合該芯片的多功能模塊結構特點，提出了一種AM-OLED驅動芯片的測試電路設計方案。

　　AM-OLED驅動控制芯片電源模塊由三個電荷泵、兩個LDO以及一個上電檢測電源組成，用來向伽馬校正、行驅動、列驅動以及SRAM模塊提供所需要的驅動電壓。內置SRAM用來存儲需要顯示的圖像數據。OSC振蕩器主要是作為片內時鐘源，可以通過倍頻、分頻、調整占空比等方式，結合各需求模塊的具體需求，產生高精度的時鐘頻率。數字控制模塊由Command decoder和TCON模塊組成，主要實現不同分辨率顯示，不同顯示模式顯示，低功耗模式控制，不同控制和數據接口兼容，行列驅動電路控制以及伽馬校正，接口譯碼功能。使各模塊能協調按序工作。

　　針對以上驅動芯片，需要對他的各項功能模塊和整體性能進行有指標的測試，常用測試項目有電源模塊測試，測定芯片內基準、電荷泵、LDO等電源的電壓、電流指標要求。聯動測試，包括上電，啟動復位、省電、睡眠等各模式之間的切換。動態電流和平均電流測試，用于統計芯片的平均功耗和瞬時功耗。列驅動Source Driver輸出固定電平測試、建立時間、DNL、INL、DVO測試。通過SPI口對集成在芯片內的SRAM進行測試，測試基本的存儲功能是否正確。伽馬電路測試，需要分步進行，先對其內部各個模擬電路進行測試，確定參考電壓產生是否正確，然后再和列驅動連接進行聯合測試。比對顯示效果，可調整電壓誤差范圍。 數字控制模塊的測試，主要在接口之間的兼容，可在線調試，寄存器可配等特點來提高芯片的可測試性。

流體控溫裝置的芯片電路設計不同廠家有著不同的特點，流體控溫裝置專業廠家應對此能夠集中分析測試，更好的進行芯片測試。

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